二川 清/編著 -- 日科技連出版社 -- 2010.10 -- 549.7

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
県立 書庫 /549/7/58 1107315705 一般   在架 iLisvirtual

資料詳細

タイトルLSIの信頼性
タイトルカナエルエスアイ ノ シンライセイ
著者 二川 清 /編著, 塩野 登 /著, 横川 慎二 /著, 福田 保裕 /著, 三井 泰裕 /著  
著者カナニカワ キヨシ,シオノ ノボル,ヨコガワ シンジ,フクダ ヤスヒロ,ミツイ ヤスヒロ
出版地東京
出版者日科技連出版社
出版年2010.10
ページ数8,183p
大きさ21cm
シリーズ名 信頼性技術叢書
シリーズ名カナシンライセイ ギジュツ ソウショ
シリーズ責任表示信頼性技術叢書編集委員会/監修
シリーズ責任表示カナシンライセイ ギジュツ ソウショ ヘンシュウ イインカイ
書誌年譜年表文献:章末
内容紹介家電、携帯、パソコン、自動車など、生活のあらゆるところで、広く深く使われているLSIの普及を支える信頼性技術の主要な要素技術や手法に焦点をあてて解説。基礎から実際的な応用までを幅広く紹介する。
一般件名集積回路
一般件名信頼性(工学)
NDC分類(8版) 549.7
ISBN13978-4-8171-9363-6
本文の言語jpn
書誌番号1109187172

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